Til hovedinnhold
Norli Bokhandel

Active Probe Atomic Force Microscopy - A Practical Guide on Precision Instrumentation

2024, Innbundet, Engelsk

1 069,-

Bestillingsvare – sendes normalt innen 10-14 virkedager
  • Gratis frakt på ordre fra 299,-
  • Bytt i 200 butikker
  • Ikke tilgjengelig for hent i butikk
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

Produktegenskaper

  • Forfatter

  • Bidragsyter

    Fangzhou Xia (Forfatter)
  • Forlag/utgiver

    Springer International Publishing AG
  • Format

    Innbundet
  • Språk

    Engelsk
  • Utgivelsesår

    2024
  • Antall sider

    366
  • Varenummer

    9783031442322

Kundeanmeldelser

Frakt og levering