Til hovedinnhold
Norli Bokhandel
Favoritter
Hjem/Bøker/Fagbøker/Matematikk og naturvitenskap/Matematikk

Digital Noise Monitoring of Defect Origin

Telman Aliev
2007, Innbundet, Engelsk
Digital Noise Monitoring of Defect Origin

1 249,-

Bestillingsvare – sendes normalt innen 10-14 virkedager
  • Gratis frakt på ordre fra 299,-
  • Bytt i 200 butikker
  • Ikke tilgjengelig for hent i butikk
Digital Noise Monitoring of Defect Origin is for both academics and professionals in the fields of engineering, biological sciences, physical science, and automation with particular emphasis on power engineering, oil-and-gas extraction, and aviation among others.

Produktegenskaper

  • Forfatter

    Telman Aliev

  • Bidragsyter

    Aliev, Telman (Forfatter)

  • Forlag/utgiver

    Springer-Verlag New York Inc.

  • Format

    Innbundet

  • Språk

    Engelsk

  • Utgivelsesår

    2007

  • Antall sider

    224

  • Serienavn

    Lecture Notes in Electrical Engineering

  • EAN

    9780387717531

Kundeanmeldelser

Frakt og levering

Alle bøkene i serien